(서울) 원인불명고장(NTF)분석 및 재현시험기술 세미나 1차 진행!

2017년 4월 18일 서울역 KTX 회의실에서 원인불명고장(NTF)분석 및 재현시험기술 세미나가 진행되었습니다.

원인불명고장(NTF)은 실사용 현장(Field)에서는 발생하나 재현이 어려운 고장으로,

정확한 원인을 규명하면 최소비용의 설계 개선을 통해 품질향상 및 품질비용을 절감할 수 있습니다.

이번 세미나에서는 반도체, 저항 등의 전자제어회로와 스위치, 릴레이, 커넥터 등의 부품에서 발생하는

다양한 고장현상 사례를 소개하고 원인을 분석하여 적절한 솔루션을 알아보았습니다.

▲ 사진을 클릭하면 크게 볼 수 있습니다.

자동차부품, 철도, 전자, 생활가전 산업의 품질관련 담당자분들이 참석해주셨으며,

본 과정을 통해 다양한 사례와 방법론을 알게 되어 유익했다는 의견이 있었습니다.

4월 25일 대전/충청, 5월 16일 울산/경상 지역에서 진행되는 원인불명고장(NTF) 세미나에도 많은 관심과 참여를 부탁드리겠습니다.

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